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菲希爾測厚儀DualScope FMP40產品使用說明：通過探頭的激勵電流產生一個低頻磁場區域，該磁場的強度取決于涂鍍層厚度并經磁性基材放大。測量線圈捕獲這個放大信號，然后通過儲存在儀器內的探頭特征曲線將信號轉換為涂鍍層厚度。

DualScope FMP20膜厚儀Fischer進口漆膜儀 非磁性金屬基材上和非導電基材上眾多涂鍍層的厚度。DUALSCOPE FMP20使用帶曲率補償功能的探頭（Fischer）。DualScope FMP20涂層測厚儀采用了磁感應和電渦流兩種方法可以測鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層，鋼和鐵上的油漆、瓷漆。

菲希爾FMP20測厚儀上海Fischer代理銷售：德國Fischer DUALSCOPE FMP20測厚儀根據磁感應法和/或電渦流法對涂層進行非破壞性測量. 公司宗旨：公司一貫堅持“質量*,用戶至上,優質服務,”的宗旨,憑借著高質量的產品,良好的信譽,優質的服務,產品.竭誠與國內外商家雙贏合作,共同發展,共創輝煌!

菲希爾Couloscope CMS2電解測厚儀 通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學的電位差進行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。